电子产品世界

芯片级验证的挑战

鉴于先进工艺设计的规模和复杂性，而且各方为 抢先将产品推向市场而不断竞争，片上系统 (SoC) 设计团队没有时间等到所有芯片模块都全 部完成后才开始组装芯片。因此，SoC 设计人员 通常会在模块开发的同时开始芯片集成工作，以 便在设计周期的早期捕获并纠正任何布线违规， 从而帮助缩短至关重要的上市时间。错误在早期 阶段更容易修复，而且对版图没有重大影响，设 计人员在此阶段消除错误，可以减少实现流片所 需的设计规则检查 (DRC) 迭代次数（图 1）。

但是，早期阶段芯片级物理验证面临许多挑 战。通常，在布局规划的早期阶段，未完成模 块中报告的违规数量非常多，导致此现象的原 因是许多系统性问题可能广泛分布在整个设计中。系统性问题的典型例子包括：SoC  级别的模块布局偏离网格、SoC  MACRO 封装外发生IP 合并、保留布线层上发生 IP 布线、时钟网络上的过孔类型 不正确，以及 SoC 中 IP 布局方向不匹配，如图 2 所示。在这 个阶段区分模块级违规和顶层布线违规并非易事。

图 1：识别和解决芯片集成问题与模块开发并行 进行，可最大程度地减少整个设计实现流程中 的 DRC 迭代次数。

对初始 DRC 运行使用晶圆代工厂规则集中的默认设置，通常会 导致运行时间非常长，还会报告非常多的违规，并产生极其庞 大的结果数据库，所有这些都使得调试极其困难且耗时。

图 2：系统性错误常常导致早期芯片级验 证中出现大量违规。

在此早期阶段，SoC 设计人员的目标通常是最大限度地减少每 次 DRC 迭代的运行时间，并且仅关注此时相关的违规情况。 除了将模块违规与需要调试的布线违规区分开来之外，SoC 设 计人员还可以将模块违规送回模块所有者进行调试和更正。 从早期的布局规划到最终的产品流片，SoC 设计人员的终极目 标是发现并修复 SoC 系统性问题。

改善错误较多的模块／芯片级验证

Calibre™ Reconnaissance (Calibre Recon) 工具是一个完整的功能包，支持设计团队在设计周 期的早期阶段（此时各种组件尚不成熟）便开始对整个芯片设计版图进行探索和物理验 证。Caliber Recon 工具能够非常有效地发现早期潜在的集成问题，向设计团队快速提供反 馈以便其采取适当的纠正措施，最终减少 DRC 迭代次数，缩短总周转时间，加快产品上市。 此外，Caliber Recon 工具经过精心设计，从第一次运行便能提供所有这些功能，支持在任何 工艺技术节点上按原样使用任何晶圆代工厂／独立设备制造商 (IDM) 的 Caliber sign-off 设计 套件。

自动检查选择

当存在错误时，某些规则检查往往会运行很长时 间。取消选择此类规则可以大大加快运行速度，但 设计人员如何确定取消选择哪些检查呢？取消选择涉 及许多操作的检查？还是取消选择某一类检查，例 如天线检查或所有连通性检查？选择运行 “最佳” 的一 组检查并不容易，这可能需要进行大量的高级分 析，并对晶圆代工厂规则集进行一些编辑（图 3）。

Caliber Recon 工具可自动取消选择与当前开发阶段无 关的检查。Calibre 引擎根据检查类型和检查涉及的操 作数量来决定取消选择哪些检查，以提供良好的覆盖率、加快运行时间并减少内存消耗。对于各种工艺节点，平均而言，Caliber Recon 工具可将 要执行的检查数量减少约 50%。取消选择的检查／类别会在过程记录副本中报告，以供用户 参考。Caliber Recon 工具也会接受用户手动取消选择的所有检查／类别。

图 3：选择正确的检查集合进行早期验 证需要仔细分析。

自动取消选择检查时，报告的违规总数通常会减少到原数量的 70% 左右（图 4）。但这些违 规对于目标实现阶段更有意义，有助于分析和调试实际系统性问题。

图 4：使用 Caliber Recon 功能时执行的规则检查总 数量的减少情况，以及最 终报告的违规数量的减少 情况。

Caliber Recon 工具最多可将整体 DRC 运行时间缩短为原来的 1/14，同时仍能检查总 DRC 集合的大约 50%。Calibre 引擎自动选择的规则子集可以有效识别布局规划和子芯片集成问 题，向设计团队快速提供反馈以便采取适当的纠正措施，并显著缩短总周转时间。图 5 基于 测试显示了不同芯片的 DRC 运行时间结果。

图 5：在各种芯片上测试 Caliber Recon 自动检查选 择的结果表明，早期实 现阶段的 DRC 运行时间和 内存耗用量大幅减少。

Caliber Recon 验证不仅能帮助 SoC 设计人员进行早期芯片级验证，而且支持早期模块验证。 因为模块和芯片设计是并行完成，所以模块设计人员可以在模块上运行 Caliber Recon 验证。 如果报告了错误，模块设计人员可以修复系统性问题。如果 Caliber Recon 结果无错误，便可 将模块传递给芯片，而模块设计人员可以在该模块上并行运行其余规则。如图 6 所示，在初 始布线期间对模块（重复单元）运行 Caliber Recon 工具可使运行时间缩短 8 倍，内存占用减 少 4 倍。

图 6：在不同的开发阶段 时，将针对重复单元和完 整芯片执行的 Calibre Recon 和完整 Calibre nmDRC 进 行比较，结果显示 Calibre Recon 的运行时间和内存 耗用量都减少。

灰框排除

遵循相同的排除概念，但这次是从设计 角度来看，是否有可能忽略设计的某些 部分（主要是不成熟的模块），从而聚 焦于接口和布线违规并减少运行时间？ Caliber Recon 灰框功能允许设计人员在 检查顶层布线时不必考虑单元细节。 灰框标记可移除指定单元中的数据，而 不会从更高的父层级中删除几何形状

（图 7）。因此，指定单元上的任何布线 违规仍能被捕捉到。此外，设计人员可 以通过缩小单元的范围来在移除的几何 形状周围保留一个晕圈，以便捕获指定 单元与其相邻单元之间的接口违规。

图 7：利用 Caliber Recon 灰框标记，设计人员可以从 DRC 中排除版图的某些部分，同时仍能检查这些区域是 否存在接口或布线违规。

灰框解决方案对于矩形和非矩形单元均适用，但设计人员可能需要指定代表非矩形单元范 围的层（边界层可用于此目的）。

虽然灰框功能可缩短运行时间，但从指定单元中移除几何形状可能会引入一些新的 DRC 违 规，这将需要额外的调试来区分哪些是实际违规，哪些是因为从指定单元中切除几何形状所 产生的违规。为了避免此问题，以及免于编辑晶圆代工厂规则集来为灰框功能增加规范说 明，设计人员可以将 Caliber Recon 灰框功能与 Caliber Auto-Waivers 功能结合使用。如图 8 所示，其主要目的是不检查不完整模块中的几何形状以缩短运行时间，附带的好处是可豁免 从指定单元排除区域时所引入的任何违规。这种结合使得设计人员可以专注于原始（有效） DRC 接口违规。所有豁免的违规都保存到豁免结果数据库文件中，供日后需要时审查。

图 8：Caliber Recon 灰框 功能与 Calibre Auto-Waiver 功能相结合，使得设计人 员可以执行接口和顶层布 线验证，而不必担心因为 从灰框单元中移除几何形 状而产生错误。

灰框解决方案能将 SoC 团队指向需要注意的接口 DRC 错误。它还将与组装相关的集成和布 线违规与不成熟模块的违规区分开来。如图 9 所示，将此功能与自动选择相关检查相结合， 可进一步缩短运行时间，因为系统会针对设计区域报告的违规，选择其中需要在特定阶段 多加注意的违规，让设计人员只专注在这些违规上。因此，它有助于设计团队在设计周期 的早期解决更多关键接口问题，避免最后一刻出现令人沮丧的意外。

图 9：Caliber Recon 自动 检查选择与灰框功能结合 使用，有助于在早期设计 实现阶段将验证重点放在 关键接口和布线问题上。

DRC ANALYZE

Caliber Recon DRC Analyze 功能可帮助设计人员快速分析其设计并直观地查看错误分布，以 便找出可快速提高版图质量的机会点。

DRC Analyze 功能允许设计人员绘制不同的直方图（基于层次化单元或窗口）以进行芯片分 析，并为这些直方图指定自定义缩放范围。它还支持绘制结果的彩色图，既可以在独立窗 口上绘制，也可以映射到设计上，让设计人员能够探查每个单元和每个窗口的错误细节， 结果会分布在整个设计上（图 10）。

图 10：Caliber Recon DRC Analyze 功能支持在错误 检查和调试过程中进行 快速、深入的可视化和 分析。

DRC Analyze 功能的主要优点是，设计人员可以使用晶圆代工厂规则集来执行所有必需的分 析，而无需进行任何编辑。与这种分析在芯片分析和调试期间提供的价值相比，相关开销

（运行时间平均增加 10% 和内存耗用量平均增加 20% ）非常小。

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关键词： 芯片 soc 设计人员