功率半导体的革命:SiC与GaN的共舞(二)

模拟技术 时间:2013-10-14来源:网络
0px 20px; WORD-SPACING: 0px; FONT: 14px/25px 宋体, arial; TEXT-TRANSFORM: none; COLOR: rgb(0,0,0); TEXT-INDENT: 0px; PADDING-TOP: 0px; WHITE-SPACE: normal; LETTER-SPACING: normal; webkit-text-size-adjust: auto; orphans: 2; widows: 2; webkit-text-stroke-width: 0px">  注2)此次试制的晶体管进行外延层生长时采用了MBE法。

  首先从制造MOSFET开始

  Ga2O3中隐藏着巨大的潜力,但研发的全面目前才刚刚开始。试制出的晶体管不仅耐压、输出电流及电流的导通/截止比都还达不到要求,漏电流也较大,而且还存在常闭工作等课题注3)。但“与采用GaN的功率元件的开发初期相比,估计解决课题所花费的时间会较短。目前已找到形成保护膜等解决问题的头绪”(NICT的东胁)。

  注3)此外,还存在难以制成p型晶体管的课题,但功率元件使用的是n型,所以问题不大。

  据NICT介绍,当前的目标是在2015年之前利用Ga2O3制造出口径为4英寸的基板和MOSFET,2020年的目标是开始作为功率元件进行小规模量产。

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关键词: 功率 半导体 SiC GaN

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