通过增益校准提高DAC积分非线性(INL)

模拟技术   作者:OnurOzbek 时间:2012-08-21来源:电子产品世界

图3:带ADC反馈的IDAC

  INL通常在满量程的一半达到其最大值,如图 4所示。如果我们能把这个峰值降下来,我们将会显著改善INL。这个发现引导我们使用两点校正代替终端或单点校正技术,因为通过终端或单点校正技术并不足以完全去除增益误差。第一个校准点用来校准前半部分(见方程1)。同样,第二个校准点用于校准后半部分(见方程2)。  

 

  该算法工作流程如下,见图5。最初,这两个增益修正值在DAC数字输入值中间和末端计算和保存。这是唯一一次使用ADC。因此,我们只有需要测量和计算校准一次。  


图5:两点增益校准算法流程图
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关键词: DAC SoC 转换器

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