TI推出整合12 位分辨率及1GSPS采样率的ADC

模拟技术 时间:2009-10-28来源:电子产品世界

  日前,德州仪器 (TI) 宣布推出一款完美整合 12 位分辨率及 1GSPS 采样率的模数转换器 (ADC),从而将单个 ADC 捕获的信号带宽有效提升两倍。ADS5400 可在第一尼奎斯特频带内实现无与伦比的 59 dBFS 的信噪比 (SNR) 以及 75 dBc 的无杂散动态范围 (SFDR),而且在超过 1000 MHz 的中频 (IF) 情况下 SNR 可达 58 dBFS、SFDR 性能达 70 dBc。全缓冲模拟输入可隔离板上采样及内部转换以避免信号源干扰,同时还能提供高阻抗输入。ADS5400 的出色性能使设计人员能够创建外形小巧、更高性能、更高密度的高带宽接收机与数字转换器。

  Tekmicro 总裁兼首席技术官 Andrew Reddig 指出:“ADS5400 帮助我们开发出的最新模块化组件 — QuiXilica Atlas-V5 VXS 电路板 — 不仅可处理 12 GB/s 的数据传输速率,而且还能生成实时结果。我们的首批客户将采用 Atlas 来创建更高性能的解决方案,以满足此前 A/D 技术难以满足的关键应用需求。”

  TI 负责高性能模拟业务的高级副总裁 Art George 指出:“客户可采用 ADS5400 实现突破性的高分辨率、高采样率及高带宽组合,通过提高雷达及信号智能 (SIGNT) 功能来显著增强国防应用,同时借助测量测试器件的 12 位分辨率将信号捕获带宽提升两倍。”

  单片型 ADS5400 是在 TI 专有的高速互补双极硅-锗技术 (BiCom3) 基础上开发而,能在指定的整个工业温度范围(-40°C到85°C)内工作。BiCom3 技术的绝缘硅 (SOI) 工艺使该解决方案非常适用于高温与高辐射环境。

  主要特性及优势

关键词: TI ADC ADS5400

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