难以捉摸的蓝色LED:研究人员最终是如何取得胜利的?
很难想象,首款蓝光 LED 的问世时间竟然晚至 1993 年。这类器件看似构造简单,但表象往往具有迷惑性(见图 1)。

1. 图像显示一个蓝色InGaN基LED带金线触点(0.4 × 0.4毫米)(a)。作为商业产品包装的LED(b)。
德州仪器工程师詹姆斯·R·比亚德和加里·E·皮特曼于1961年意外制造了第一个LED灯。当时,他们合作开发了用于X波段雷达接收器的低噪声参数放大器,并发现了一种安装在砷化镓基板上、能发射红外光的二极管。1962年,首款商业LEDSNX-100 GaAs LED(铵气管)问世。同年,通用电气物理学家尼克·霍洛尼亚克制造了第一颗红色LED灯。
生产各种LED颜色涉及对具有不同分子结构的材料施加电流。研究人员观察到每种材料的能带如何影响波长,从而影响发射光的颜色。
尝试不同化合物是一个漫长的反复试验过程。使用合适的化合物意味着它必须高效产生光子并保持热稳定性,以防止电流下的降解。此外,化合物需要高效且大规模地制造。
蓝色LED的难得材料
在早期生产阶段,我们成功用合适的材料制造出红绿LED灯。然而,寻找蓝色LED的材料更为困难,因为它需要最宽的带隙。通常,LED采用砷化镓磷化物(GaAsP)和磷化镓(GaP)等材料开发,这些材料能产生红、橙、黄和绿光。找到合适的化合物产生蓝色波长的光仍然难以实现。
20世纪70年代初,亚硒化锌(ZnSe)是一种II-VI半导体,其带隙约为2.7 eV,适合蓝光发射(460纳米),被用于LED应用(见图2)。采用ZnSe技术的LED由于材料质量问题,效率有限,通常仅能维持数小时或数天便失效。

2. 随着位错密度在不同半导体材料中增加,LED效率会下降。
锌硒技术寿命短暂,是因为材料在热和化学上都不稳定,导致缺陷和劣化迅速。其内部量子效率有限,位错密度常常超过108 cm²。这使得长期无法在商业应用中明亮照射锌铉器件。
基于氮化镓(GaN)解决方案的研究
由于这些缺陷,斯坦福大学工程师赫伯·马鲁斯卡和沃利·赖恩斯转向了氮化镓(GaN),这是一种III-V型半导体,直接带隙约为3.37至3.4 eV。他们认为氮化镓是解决蓝色发射的完美方案。
然而,使用起来非常困难,因为氮化镓不能作为大块单晶生长,因为它在熔化前会在高温下分解,且没有晶格匹配的基底。在蓝宝石上生长氮化镓会导致晶格错配达到13%到16%。这导致其螺纹位错高达1010厘米/平方厘米。这类缺陷实际上破坏了由于非辐射复合而产生的光发射。
GaN晶体通过金属有机化学气相沉积(MOCVD)生长,主要外延生长层的温度范围为1,832至1,922°F。通过精确控制温度梯度、气体流量及前驱材料(如三甲基镓(TMG)和氨(NH3)来优化晶体质量和层均匀性。
为消除晶格应变,科学家引入了厚度约20至50纳米的氮化铝(AIN)或氮化镓(GaN)低温缓冲层,沉积温度较低(−868至1,472°F)。采用此方法后,位错密度从1010 cm²缩小至中段的8 cm²。
由于p型掺杂难以实现,培养高质量GaN效率低下。尽管科学家们曾使用硅供体进行n型掺杂,但制造自由空穴以实现p型电导性仍具有挑战。镁作为掺杂剂,但镁受体被MOCVD生长过程中加入的氢原子钝化,抑制了p型活性。尝试生产p型GaN形成了电阻性、非导电性材料。
通过定制MOCVD优化氮化镓增长
基于这些发现,中村修司开发了一种新的定制MOCVD技术,以优化所有氮化镓生长步骤。1991年,他设计了双流MOCVD反应堆,引入了垂直于反应气流向基底表面的次级惰性气体向动。该次流抑制了反应堆内的热对流,减少了形成粉末沉积物和氮化镓生长不均的湍流。
增强这些气体流动动力学还改善了靠近基底的热边界层,从而实现了2英寸蓝宝石基底上的可重复、均匀且高质量的氮化镓晶体生长。蓝宝石基底(见图3)。

3. 示意图,展示了用于氮化镓生长的双流MOCVD装置。同时,右侧图示新引入的亚流对载流气体的影响。
在实验中,中村在约1832°F的温度下生长GaN晶体,反应堆压力接近200托。在此条件下,V/III前驱体比超过5000,有助于稳定产生光滑氮化镓层所需的富氮气氛。N型掺杂硅浓度保持在1018 cm-3。
掺杂镁(水平相近)的p型层在氮气或低能电子束照射(LEEBI)中,在752至932°F的生长后退火,解离Mg-H配合物以激活镁受体。激活这些空穴后,产生了高效的GaN p-n连接,使光能发出明亮的蓝色光。
中村随后突破性地将铟加入活性层,形成氮化镓镓(InGaN)。实现含量不变的铟层(约10%至20%)使发射波长从紫色(约400纳米)调谐到蓝色(约470纳米)实现(见图4)。

4. 对蓝色LED效率的贡献者。
然而,由于铟原子半径比镓大(约20%),合金化会产生更大的应变。这意味着生长参数需要精确控制,以消除缺陷风险。团队通过MOCVD将InGaN层从1472至1652°F生长为多量子阱(MQW),将2至3纳米厚的InGaN阱改为1纳米势垒,在狭窄区域内隔离电子和空穴,以提升辐射复合效率。因此,缺陷产生的非辐射损失缩小。
MQW内部电场又出现了另一个问题。维尔茨矿GaN晶体的压电和自发极化导致井间强烈能带弯曲,这种现象称为量子约束斯塔克效应(QCSE)。QCSE将电子和空穴波函数分离,使复合效率降低。
为解决这一问题,工程师们缩小了井厚,并精确调校了铟的成分,以平衡应变和约束。这确保了最小的QCSE,并保持了高发射强度。
进入晶圆加工阶段生产LED芯片
通过MOCVD完成InGaN和GaN层的外延生长后,晶圆经历关键加工步骤以生产LED芯片。光刻技术在利用氯气进行反应离子刻蚀(RIE)前,将LED台地和器件图案设定为基层蚀刻和隔离设备。
冶金过程会产生电注入必不可少的欧姆接触。这涉及在n型氮化镓上沉积并图案化钛/铝(Ti/Al)层。与此同时,p型GaN则有镍/金(Ni/Au)层。随后,团队通过沉积后退火在752至932°F下增强了接触性能。
部署表面粗糙化技术和图案蓝宝石基底(PSS)可提升采光效率。PSS降低了生长过程中的位错密度,并产生微纳尺度的纹理以最小化全内反射。这增加了发光的输出。这些晶圆改进对于确保蓝光LED的高亮度和高效性至关重要。
首个高亮度蓝色LED灯
直到1993年,中村和他的团队才终于开发出了首个高亮度蓝光LED。他们的发明具有双异质结构,将一层InGaN活性层置于n型和p型GaN层之间(见图5)。他们使用了厚度约20纳米的Si掺杂InGaN。它的发射波长约为440纳米,产生明亮的蓝光。该蓝色LED在20毫安正向电流下,光功率为125微瓦,外部量子效率(EQE)为0.22%。

5. 同质结LED结构(a)和双异质结构LED(b)的示意能量图。
即使在今天,制造氮化镓LED仍需在化学与精度之间取得恰当平衡。MOCVD生长外延层,镓和铟通过三甲镓和三甲铟分布,氨作为氮源。
生长速度约为每小时1到5微米,整个过程完成外延堆栈需要几个小时。精确调整掺杂浓度有助于控制载流子密度和结状行为。
过去20年,由于应变工程、量子阱优化和纳米结构光图样的提升,商用设备的EQE从低比例提升至超过80%。InGaN合金中的载流子定位使位错密度更为可容忍。
克服氮化灯LED持续挑战的步骤
GaN LED仍面临晶体学缺陷,如螺纹位错(107至10 10 cm-2)、堆叠故障和V型缺陷。这些装置作为非辐射的复合枢纽,降低了内部量子效率。有时,V型缺陷可以隔离载流子,减轻效率损失。
与此同时,内部的InGaN量子阱存在点缺陷和杂质,通过产生深陷阱降低效率,从而实现非辐射复合。改进InGaN或InAlN底层的使用,通过减少点缺陷的形成提升了性能。
Shockley-Read-Hall、Auger和密度激活缺陷复合会导致效率下降,因此对于高注入电流至关重要。由于缺陷密度降低、外延能力增强和量子阱设计的进步,这些影响已被最大程度减轻。LED器件寿命更长,因为它们通过原子层沉积实现了热管理、钝化处理以及中性束或化学蚀刻技术,以减少侧壁损伤(见图6)。

6. 没有中村修司的贡献,蓝光LED的诞生是不可能的。
中村修二对蓝光 LED 的贡献,彻底改变了照明行业的格局 —— 它不仅催生出了高效的白光 LED(通过蓝光激发荧光粉实现),还推动了蓝光激光二极管的发展,并最终促成了蓝光光盘(Blu-ray)技术的诞生。这项突破攻克了氮化镓材料数十年的研发难题,是工程领域的一座里程碑,为固态照明与显示技术的发展铺平了道路。
那么,说了这么多,当我们看到设备上亮着的蓝光 LED 时,会做什么呢?答案是:贴上一块胶带把它遮住。
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