高速串行信号测试

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高速串行信号测试
深入浅出谈高速串行信号测试(二)
2010-05-27 11:25

继“深入浅出谈高速串行信号测试(一)”获得大家鼓励后,也有网友以及来自客户拜访中对于抖动的提问,使我
萌发了写下篇的念头。在这篇博文中我们深入讨论一下高速信号中最主要的方面――抖动。在上一篇中我们知道现在数
字电路发展的趋势是并行向串行发展,而串行速率也在不断的提高,下图是流行的串行总线发展趋势图:




图:高速串行总线发展趋势

抖动的定义:“信号的某特定时刻从其理想时间位置上的短期偏离为抖动”。
参考: Bell Communications Research, Inc (Bellcore), “Synchrouous Optical Network (SONET) Transport Systems: Common Generic
Criteria, TR-253-CORE”, Issue 2, Rev No. 1, December 1997


分析一下抖动的定义,有两个要点:抖动是时间的误差;抖动是实际与理想之间的误差。因此,在测试抖动的时候,
我们需要明确这是一个时间量的测试;并且需要找到与之比较的理想信号。

越来越快的数据率意味着承载信息的比特位的时间长度(Unit Interval)会越来越短。对于 1Gbps 的 LVDS 信号,
100ps Pk-Pk 的抖动也许不算什么;但是对于 PCIE Gen2.0,100ps pk-pk 的抖动意味着会占据一半的 UI。

关键词: 高速串行   测试  

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