EMI 调试实践应用指南

  上传用户：EEPW 上传日期：2017-05-05 文件类型：PDF
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即使是采用了优秀的设计，选择了优质器件，花了时间认真分析了产品特性，可能仍然会发生EMI 问题！
在我们从EMI 角度查看任何产品时，整个设计可以视为能量来源和天线的集合。为了识别EMI 问题的来源，我们必须先确定能量来源，然后找出这种能量是怎样放射的。EMI 问题的常见来源* 包括：……

关键词： 泰克   Tektronix   EMI 调试  

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