集成电路的检测
上传用户:电子产品世界
上传日期:2007-05-30
文件类型:DOC
文件大小:10.24K
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集成电路的检测(IC test)分为wafer test(晶圆检测)、chip test(芯片检测)和package test(封装检测)。
关键词: IC test 晶圆检测 芯片检测 封装检测

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