集成电路的检测

  上传用户:电子产品世界 上传日期:2007-05-30 文件类型:DOC
  文件大小:10.24K 资料积分:0分 积分不够怎么办?
集成电路的检测(IC test)分为wafer test(晶圆检测)、chip test(芯片检测)和package test(封装检测)。

关键词: IC test   晶圆检测   芯片检测   封装检测  

加入微信
获取电子行业最新资讯
搜索微信公众号:EEPW

或用微信扫描左侧二维码

相关下载