一种采用分离栅极闪存单元实现可编程逻辑阵列的新型测试结构
上传用户：焊锡
上传日期：2014-03-31
文件类型：PDF
文件大小：2892.84K
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大多数可编程阵列使用易失性存储器SRAM作为配置数据存储元件。最近，有人尝试使用非易失性存储器(NVM)替代SRAM。基于NVM的FPGA是嵌入式IP应用的理想选择，其架构和许多增强功能可改善芯片集成度、IP使用率和测试时间。Robert Lipp等人提出了一种采用浅沟槽隔离(STI)工艺的高压三阱EEPROM检测方案。为了能及时编程，使用此方法的开关器件需要
关键词： 可编程 闪存 SRAM SST SCE
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