电子产品世界
业界动态
设计应用
牛人业话
暴力拆解
EEPW观点
嵌入式系统
元件/连接器
电源与新能源
安防与国防
汽车电子
EDA/PCB
消费电子
工控自动化
模拟技术
医疗电子
测试测量
手机与无线通信
光电显示
网络与存储
智能计算
物联网与传感器
论坛
在线研讨会
博客
电子设计方案
白皮书
开发板试用
穿孔带采样用光栅电路
作者:dolphin
时间:2009-07-06
关键词:
穿孔
采样
光栅
阅读全文
加入微信
获取电子行业最新资讯
搜索微信公众号:EEPW
或用微信扫描左侧二维码
相关电路
AD585增益= 1时的有效采样保持电路
2009-07-06
AD585
增益
有效
采样
保持
AD585增益= 2时的HOLD有效采样保持
2009-07-06
AD585
增益
有效
采样
保持
HA5340/883高速精密单片采样保持放大
2009-07-06
HA5340
高速
精密
单片
采样
保持
放大器
AD585高速精密采样保持放大器
2009-07-06
AD585
高速
精密
采样
保持
放大器
单片采样保持放大器LF198/298/398
2009-07-06
单片
采样
保持
放大器
LF198
SMP04 CMOS四采样保持放大器
2009-07-06
SMP04
采样
保持
放大器
由SMP04与仪表放大器构成的时间增量采样差
2009-07-06
SMP04
仪表
放大器
构成
时间
增量
采样
差分
测量
由SMP04与运放构成的增益为10的采样保持
2009-07-06
SMP04
运放
构成
增益
采样
保持
放大