双向可控硅的测量(晶闸管测量)
作者：fanxiaoxi
时间：2023-02-16
1.用指针式万用表电阻档测量可控硅阳极和阴极之间是否短路，一般情况下双向可控硅阳极和阴极之间的电阻在数十千欧以上，如用万用表测量时已短路或电阻已小于10千欧以下，可判断可控硅已击穿损坏。
2.用万用表分别测量双向可控硅触发极与阴极之间的电阻值，一般再几欧至百十欧以内的正常，触发极与阳极之间的电阻值，一般再十千欧以上为正常。
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