使用时间可控发射方法来进行模拟电路的失效分析
体管与D2S接口的部分不匹配将导致事件发生器增益的减少。
晶体管参数0.5%的不匹配就会对预期的波形产生影响。这对模拟电路非常重要，这也表明TRE能用于诊断模拟电路内部敏感的不匹配问题。这样的晶体管不匹配将导致器件的失效并最终需要重新设计芯片。通过相应的掩模板修改和重新流片我们能生产出功能正常的芯片。
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