应对八天线LTE测试的挑战（一）
八天线LTE系统使用了先进的天线技术，测试中所用的建模信道必须重现这些技术中所用信道的实际物理特性。如果在仿真结果中不能将所有的细节都囊括在内，则有可能建立不正确的基准，从而无法对真正的系统性能进行评价。例如，极化会影响用户设备接收到的信号功率。与无极化的案例相比，接收到的信号功率明显较低。这种由于极化直接造成的损失取决于用户设备与eNodeB天线阵列之间的相对方向。
天线模式也对信号强度有直接的影响。接收信号的功率会随信号行进方向的不同而有所变化。由于每种可能的场景都有一系列独特的离去角（AoD），因此功率也会随方向的不同而有所变化。当天线模式和极化结合在一起时，这个问题会变得更难应付。下表显示的双信道场景下不同组合造成的功率损失。表中的“X”代表一个交叉极化天线对，而竖线（||）代表的是无极化的天线组件。
表：极化和天线模式对接收功率产生的影响
动态场景：对于一种波束赋型系统而言，仅在静态（非移动）条件下进行测试是远远不够的。波束赋型基本上包含两个步骤：估计用户设备的方向，以及将波束指向该方向。当用户设备移动时，它（相对于eNodeB天线阵列）的方向也会改变。在理解系统性能的过程中，这种现象会带来两个基本的问题：系统跟踪用户设备移动的速度有多快，以及系统的性能会因此受到怎样的影响？为了解答这些问题，我们必须使用能够代表实际运行条件的动态场景来对波束赋型系统进行测试。
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