高性能接触电阻测试系统
图 2，利用共用端子测量32个触点
在有些情况下，可能需要以独特的串联方式将开关的数量减少一半，如图 2所示。在本例中，所有的接片都被串联在一起，每个底座均被连接到一个双刀开关。在这种情况下，带有7701型低电压32通道差分多路选通模块的2750型多用表/开关系统可测试32个触点。利用2750型主机中的5块7701型模块，可测试最多160个触点。
图3所示为一个高性能接触电阻系统，能够以相当小的电流（100 μA）测量非常低的电阻（μΩ）。在该系统中，2400型源表输出测试电流，2182A型纳伏表测量每个触点上的压降。2182A和2400均通过7011型40通道多路选通卡切换至每个触点。2400型提供了一个可编程的电压跟随限值，所以系统能够确保干电路测试条件。
图3，高性能接触电阻测试系统
一块7011型开关卡和一个7001型开关主机可切换20个触点。7011型开关卡被配置为两组20通道。利用主机的4到开关模式，两组继电器可被同时打开或闭合。
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